| 研究課題/領域番号 |
26420253
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
電力工学・電力変換・電気機器
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| 研究機関 | 神奈川工科大学 |
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研究代表者 |
板子 一隆 神奈川工科大学, 工学部, 教授 (10232381)
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| 研究協力者 |
谷田 雄二
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| 研究期間 (年度) |
2014-04-01 – 2017-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
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| 配分額 *注記 |
4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2016年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2015年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2014年度: 3,380千円 (直接経費: 2,600千円、間接経費: 780千円)
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| キーワード | ホットスポット現象 / 太陽電池モジュール / 結晶欠陥 / ホットスポット / 簡易診断システム / O&M / 太陽電池パネル / プロジェクタ / 太陽光発電システム / SRC診断法 / 単結晶太陽電池 / 多結晶太陽電池 |
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| 研究成果の概要 |
太陽光発電システムでは、太陽電池のセルに影が生じるとそのセルが高温になるホットスポット現象が問題となっている．このホットスポットはセルに結晶欠陥がありそこに影がかかると逆方向リーク電流が流れて発生することが分かっている．この性質を利用して、簡易的にプロジェクタを用いて自動で影を作り、欠陥セルがあるかどうかをセル単位で特定する新しい診断システムを提案し、モジュール１枚での検査手法を検討し、さらにその手法を実際的なストリング構成に拡張した．さらに、これを屋外に設置された太陽電池モジュール群に用いて検査実験を行い、高い精度で欠陥セルを含むモジュールを特定できることを実証した．
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