研究課題/領域番号 |
06302074
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研究種目 |
総合研究(A)
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配分区分 | 補助金 |
研究分野 |
計算機科学
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研究機関 | 東京工業大学 |
研究代表者 |
南谷 崇 東京工業大学, 大学院・情報理工学研究科, 教授 (80143684)
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研究分担者 |
安浦 寛人 九州大学, 大学院・総合理工学研究科, 教授 (80135540)
広瀬 全孝 広島大学, 工学部, 教授 (10034406)
天野 英晴 慶應義塾大学, 理工学部, 助教授 (60175932)
上田 和宏 芝浦工業大学, システム工学部, 教授 (60203436)
鳳 紘一郎 東京大学, 工学部, 教授 (60211538)
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研究期間 (年度) |
1994 – 1995
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キーワード | VLSIチップ試作サービス / マルチプロジェクトチップ / ゲートアレイ / フルカスタムLSI / VLSI設計教育 |
研究概要 |
大学のVLSIシステム設計教育研究環境を支えるVLSIチップ共同試作サービス体制を実現するために利用者側とLSIファンドリ側双方の技術的課題、経済的課題を明らかすることを目的として、マルチプロジェクトLSIチップ設計試作サービスをシミュレートするパイロット試行を実施した。この試行実験では、チップ製造をNTTエレクトロニクステクノロジ(NEL)社に委託した。 平成6年度は、試行参加8大学がそれぞれ教育用または研究用に設計したLSI回路の設計・テストデータをNELへ提出し、それらをNEL社の提供する0.5ミクロンCMOSゲートアレイを用いて2種類のマルチプロジェクトチップとして編集、試作するシミュレーション実験を実施した結果、大学側、チップ・ファンドリ側、仲介機構などのさまざまな課題が明かにされた。 平成7年度は、ゲートアレイLSIとフルカスタムLSIの2種類の設計試作パイロット試行を実施した。前者は6年度と同様であるが、フルカスタムに関しては、11大学14グループの設計をNELの0.8ミクロンアナログCMOS技術を用いた3.75mm角(有効面積2.44mm角程度)×16領域(内、2領域はNELのテスト回路)のフルカスタムチップとして試作することによってVLSIチップ試作サービスのシミュレーション実験を行った。これらの設計過程、マルチプロジェクトチップの編集、試作過程におけるさまざまな問題点が明かにされ、解決指針が示された。 電子情報通信学会の平成6年度全国大会(福岡工業大学)及び及7年度全国大会(東京工業大学)において公開シンポジウムを開催し、VLSIシステム設計教育高度化のために必要な諸施策、新しい産学協同体制のありかたを明らかにした。
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