(1)利得スイッチ動作半導体レーザパルスのチャープパラメータ推定 波長分解ストリークカメラ像の実験データをもとに線形および2次の非線形チャープ係数を推定する方法を開発した。10ピコ秒台の短パルスをストリークカメラで測定するとき、時間と周波数の不確定性関係により、瞬時周波数の推定にはあいまいさが伴なう。短時間フーリエ変換法(STFT)を適用することによってあいまさを最小限に抑えてパラメータを推定する方法を確立し、また非線形チャープを少なくする半導体レーザの駆動条件をもとめた。そのようなパルスを用いてソリトン圧縮をすれば品質のよいサブピコ秒パルスが得られる。 (2)偏波フィルタリングによるフーリエ変換極限パルス整形 利得スイッチ動作半導体レーザパルスは非線形チャープ成分を持ち、分散ファイバによるチャープ補償が不完全にしかおこなえないが、偏波制御部品の利用によって適当な条件のもとでフーリエ変換極限パルスが得られることを実証した。 (3)ソリトン圧縮パルス光を用いた電気光学サンプリング実験 半導体レーザとエルビウムドープファイバ増幅器を用いたソリトン圧縮パルス光源からノピコ秒幅のパルスを発生させ、電気光学サンプリングによってMSMフォトダイオードを評価した。
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