研究課題/領域番号 |
09440108
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研究機関 | 九州大学 |
研究代表者 |
中島 孝夫 九州大学, 理学部, 教授 (90037200)
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研究分担者 |
中村 裕之 北九州工業高等専門学校, 助教授 (70172434)
御手洗 志郎 九州大学, 理学部, 助手 (00108648)
杉光 強 九州大学, 理学部, 助教授 (70037216)
郷農 靖之 九州大学, 理学部, 教授 (50016127)
森信 俊平 九州大学, 理学部, 教授 (50016078)
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キーワード | 加速器質量分析(AMS) / PXD / Inverse-PIXE / K-X線 / ビームパンチャー / ビームチョッパー / タンデム加速器 / スパッタリングイオン源 |
研究概要 |
1) AMS専用イオン源 加速器質量分析専用イオン源として多サンプル装填型のセシウムスパッタリングイオン源及びタンデム入射部ビーム分析装置の製作を完了し、性能テスト運転を進めた。Cl^-イオンビーム引き出しテストにおいてAMS実験を進めるために十分な強度が得られることが確かめられた。 2) パルスビーム生成システムの改良 既設のビームバンチャー装置によって得られるビームから、実験上要求されるビームパルス幅を外れた部分を除去するためのビームチョッパー装置を製作した。 3) Inverse PIXE法によるAMS測定技術の確立 前年度購入した高分解能Ge X線検出器を用いて、タンデム加速器によって加速したCI,Sビームのビーム原子からのK-X線の放出確率のエネルギー依存性、検出効率、最大の検出効率が得られるターゲット条件等を求める実験を進めた。その結果、最適の条件下ではClイオン当たりに1に近い確率でK-X線が放出されることが確認された。また、九大タンデム加速器で得られるビームエネルギーが、この測定方法(Inverse PIXE)による36Cl-AMS実験にとって最適の条件を与えることが判明した。 4) AMS測定の新方式の提案 この研究課題で得られた成果に基づく新方式の重イオンAMS測定法の着想を得て、その早期実現に向かって歩を進めることになった。 従来の方法では、加速ビームを電磁石等による運動量、エネルギー分析装置に通した上で検出するため、タンデム加速器によって価電数が分散した重イオンのうち1種のみが検出対象となり得る。この新方式では、パルス化ビームの飛行時間情報と特性X線の元素分析能力の組み合わせによって、分析電磁石等を経ずに加速イオン全てを検出装置に導くシンプルな方式で効率良い測定が可能になる。 5) X線測定による薄膜厚み計と可搬型PIXE この研究課題の本来の目的には入っていないが、高分解能X線検出器のテスト実験を進める過程で表記の新しい実験技術の開発に成功し、その成果を物理学会年会で発表した。
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