| 研究課題/領域番号 |
09670943
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| 研究機関 | 長崎大学 |
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研究代表者 |
奥村 寛 長崎大学, 医学部, 教授 (00073130)
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| 研究分担者 |
井原 誠 長崎大学, 医学部, 助手 (60175213)
岡市 協生 長崎大学, 医学部, 助教授 (80124874)
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| キーワード | scid細胞 / 放射線感受性 / 重粒子線 / DNAニ重鎖切断 / DNA-PK活性 / RBE |
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| 研究概要 |
scid細胞は低LET放射線に高感受性を示す。高LET放射線にscid細胞がどのような感受性を示かは、まだ明らかではない。scidの原因遺伝子DNA-PKが高LET放射線照射によって生じたDNA障害をどのように修復するかを明らかにする必要がある。したがって、scidの原因遺伝子DNA-PKが高LET放射線照射によって生じたDNA障害をどのように修復するを明らかにするため、重粒子線の放射線感受性を調べ解析した。
放射線は、X線(200kV)と炭素線(重粒子線、290MeV/u、50keV/μm)を用いた。X線照射によって生じるハイブリッド細胞のDNA二本鎖切断の修復は二相性を示したが、scid細胞は単相性であった。炭素線照射によっても同様な結果を示し、LETに依存していなかった。また、炭素線のRBEを解析した。scid細胞のRBEは1.30、ハイブリッド細胞のRBE、1.47より小さかった。
scid細胞の放射線感受性の値からハイブリッド細胞の放射線感受性の値を差引いたものがDNA-PKによって修復された障害(DNA-PK寄与分)のRBEである。DNA-PK寄与分のRBEは1.02であった。すなわち、DNA-PK寄与分はLET依存しなかった。
致死となる修復不能なDNA障害のRBEが1.47でLETに依存し、DNA-PKに依存して修復されるDNA障害のRBEは1.02でLETに依存しないものであると推測できる。この結果、scid細胞とハイブリッド細胞のRBEが異なったと考えられる。
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