大規模集積回路設計データの知的検証に関する研究

1998 年度 実績報告書

• 研究課題/領域番号: 10355014
• 研究機関: 東京大学
• 研究代表者: 浅田 邦博 東京大学, 大規模集積システム設計教育研究センター, 教授 (70142239)
• 研究分担者: 池田 誠 東京大学, 大規模集積システム設計教育研究センター, 講師 (00282682)
• キーワード: 設計規則 / 電源配線 / 短絡 / 断線 / 大規模集積回路

研究概要

本年度は、これまでの設計データから、電源配線を抽出し、そこに接続される素子数から最大電流値を見積もることで電流集中個所を導き出す方法の検討を行った。なお、本方式は電源のループ部分の取り扱い等の点で解決すべき問題点が多いため、まだ一般に使用できる状態に至っていない。
また、これまでの設計データに関して、当センターに提出されたデータの目視による設計誤り指摘個所の分類を行うことで、誤りの傾向の分析を行った。その結果、設計誤りの大部分は1)ツールの使用法の習熟不足によるもの、2)設計規則の理解不足、見落としによるもの、3)単純なケアレスミスによるもの、であることが分かった。このことから今後同種の原因による設計誤りを少しでも軽減するためには、第一に各ツールを用いた設計における詳細な設計フローおよび設計ツールの習熟度を高めるためのトレーニングテキスト等を作成する必要があること、設計規則の中で見落とされやすいものを重点的に警告を発するような設計規則検査のルールを作成することで、多量に出力される設計検証出力の中に重大なエラーが埋もれないような工夫を行うことが必要であることが分かった。
さらに、これまでセンターで行ってきているデータ変換では、データのサイズが増大するとともに、変換プログラムのバグやディスク、メモリー不足等による動作環境上の問題、操作ミス等により変換誤りの生じる可能性が大きくなってきているが、導入した図形検証システムを用いて、2種類の変換方式により変換データの一致検証を行うことで変換誤りによる動作不良の可能性を軽減することが可能となった。

研究成果

• [文献書誌] K.Asada: "Microelectronics education in Japan" Microelectronics Education 1998. 195-198 (1998)
• [文献書誌] 浅田 邦博: "VDEC:東京大学大規模集積システム設計教育研究センター,VDE" MRS-J NEWS Vol.10. No.2. 4-5 (1998)
• [文献書誌] 関根 慶太郎: "電子・情報・システム分野における歩み" 電気学会誌Vol.118. No.6. 348-354 (1998)
• [文献書誌] Minkyu Song: "Design of Low Power Digital VLSI Circuits Based on a Novel Pass-transistor Logic" IEICE Trans.Electronics,Vol.E81-C. No.11. 1740-1749 (1998)
• [文献書誌] 小松 聡: "適応型コード帳符号化による低消費電力チップインターフェースの検討" 電子情報通信学会 論文誌C-II Vol.J82-C. No.4(掲載予定). (1999)
• [文献書誌] Tetsuhisa Mido: "TEST Structure for Characterizing Capacitance Matrix of Multi-layer Interconnections in VLSI" IEICE Trans., Electronics, Vol.E82-C. No.4(掲載予定). (1999)