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J-PARC ハドロン実験施設におけるハドロン質量起源の研究の為に高性能な電子識別装置が必要であり、その為にハドロン・ブラインド検出器の実機製作を行った。その際発見した技術的問題点は解決した。例えばチェンバー溶接時に底面にひずみがでる事がわかり、溶接時固定具を製作して改善した。また、光電面不良部分のレーザー処理による切り離しに成功、さらに使用するGEMの簡便な事前性能評価方法を開発した。また、プロトタイプ性能評価結果をまとめて論文とし、出版した。
本研究で得られた知見をJ-PARC E16実験のTechnical Design Reportとしてまとめて課題採択委員に提出、実験の本採択を得た。
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