| 研究課題/領域番号 |
15K12004
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| 研究種目 |
挑戦的萌芽研究
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 九州工業大学 |
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研究代表者 |
梶原 誠司 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 (80252592)
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| 研究分担者 |
大竹 哲史 大分大学, 理工学部, 准教授 (20314528)
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| 研究協力者 |
佐藤 康夫 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 客員教授
中村 芳行 ルネサスエレクトロニクス(株), オートモーティブソリューション事業本部, 主任技師
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| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2018-03-31
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| キーワード | LSIテスト / テストコスト削減 / データマイニング / アダプティブテスト / バーインテスト |
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| 研究成果の概要 |
本研究では，製造テストで得られる膨大な測定データに対するデータマイニングに基づいて，テストコストを削減する手法を提案した．提案手法は，テスト途中のVLSI の最終テスト結果を予測するための判別モデルを作成する．テスト結果予測によるテストコスト削減効果を評価するため，新たな評価尺度も開発している．更に，劣化が進行しやすいVLSI を判別するための検討を行った．実験では，提案のテスト結果予測手法は予測性能やコスト削減率等の評価値を十分に向上可能であることを示した．更に，試作チップに対する実験により，回路構成の違いによる劣化進度の違いを確認した．
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| 自由記述の分野 |
LSIテスト
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