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本研究では，DC-ACインバータのスイッチングノイズによって引き起こされる，論理回路における過渡故障の検出手法について提案した．提案手法では，元の回路の一部の機能のみ等価な近似回路と，元の回路に対する双対な論理設計とを組合せた双対近似回路を導入する．小規模な回路に対するシミュレーションを行い，多重故障検出能力について評価した．
また，双対近似回路を適用する回路の特定およびテストのため，クリティカルエリアを考慮したテストパターン生成手法の高速化についても検討した．2段階テスト生成およびウインドウベースの探索により，従来手法と比較して40%のパターン数削減と10倍以上の高速化を実現した．
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