Heパスを利用した軟X線分光装置を開発することで、これまで測定が困難であった揮発性の高い試料なども測定できるようになった。また溶液セルが破損した時の真空チャンバー内の光学素子や検出器へのダメージが懸念されることから測定することが難しかった液体試料も、より一般的な軟X線ビームラインにおいても設置しやすくなり、安全に測定できるようになった。これによりイオン液体や溶液中の錯体の電子状態観測ができるようになり液相の分子間相互作用を電子状態変化から研究できるようになった。またソフトマター系が測定できるようになったことで、より広い範囲での材料科学の発展に寄与できるようになると考えている。
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