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2019 年度 研究成果報告書

金属デバイスの非破壊精密検査を目的とした多軸X線CTの開発

研究課題

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研究課題/領域番号 17K18188
研究種目

若手研究(B)

配分区分基金
研究分野 計測工学
機械力学・制御
研究機関東京理科大学 (2019)
東京工科大学 (2017-2018)

研究代表者

加納 徹  東京理科大学, 工学部情報工学科, 助教 (40781620)

研究期間 (年度) 2017-04-01 – 2020-03-31
キーワード非破壊検査 / X線CT / メタルアーチファクト / 計測 / 画像再構成
研究成果の概要

非破壊で被写体の断層画像を取得可能なX線CTは、電子デバイスなど被写体内部に金属が含まれるとき、メタルアーチファクトと呼ばれる激しい放射状のノイズが発生する。本研究では、X線CTにおけるメタルアーチファクトを低減するため、多軸回転機構を持つX線CTを提案した。多軸回転により、被写体の姿勢をさまざま変化させ、金属によるX線強度の飽和およびデータの損失を防ぐというものである。投影データ上の金属領域の面積に注目した姿勢制御の最適化を行うことで、効率的に金属の重畳を避けることに成功し、メタルアーチファクトの発生強度を大きく抑制可能であることを確認した。

自由記述の分野

計測工学、非破壊検査

研究成果の学術的意義や社会的意義

X線CTは非破壊検査装置として活用されてきたが、撮影対象に金属が含まれるとメタルアーチファクトと呼ばれる激しいノイズが発生する課題が残されている。本研究では、多軸回転機構を用いた新しいX線CT撮影手法の提案により、メタルアーチファクトを抑制し、これまで困難であった電子デバイスの非破壊精密検査の実現可能性をシミュレーション上で示した。今後、実環境での実装を進めることで、金属の影響を受けない非破壊精密検査が可能となり、工業製品の欠陥特定や疲労評価、および品質向上に大いに寄与することが考えられる。さらには、検査用途だけではなく、材料科学における新たな知見の獲得に繋がることが期待される。

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公開日: 2021-02-19  

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