研究成果の概要 |
スピン偏極陽電子ビーム分光法を用いて、強磁性Co,Ni,Fe及びCo2FeGa0.5Ge0.5(CFGG)上のグラフェン、そして、通電下にあるトポロジカル絶縁体(Bi2Se及びBi2Te)の最外層のスピン偏極状態を観測した。その結果、CoとNi上のグラフェンには強いスピン偏極が誘起されるが、ディラック電子状態が完全に破壊されること、CFGG上のグラフェンにはスピン偏極は殆ど誘起されないが、ディラック電子状態は維持されること、が明らかになった。トポロジカル絶縁体表面のスピン偏極率は、0.1%以下と極めて低いことが解明された。
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