本研究では、溶液中および乾燥後の高密度ポリエチレン単結晶の結晶構造を広角X線回折(WAXD)測定に基づき評価し、その相違を明らかにすることを目的とする。 等温結晶化法で調製した溶液中のポリエチレン単結晶およびそれを乾燥して得られたポリエチレン単結晶マットのWAXD測定を行った。得られたプロファイルを比較すると、乾燥に伴い、一部の結晶面の面間隔が広角側にシフトした。これより、乾燥過程でポリエチレン単結晶の結晶格子間隔は小さくなることが明らかとなった。これは、単結晶が溶液中で形成していた中空ピラミッドが平面状へ変形することと相関があると考えられる。
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