| 研究課題/領域番号 |
17K19165
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| 研究種目 |
挑戦的研究(萌芽)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
高分子、有機材料およびその関連分野
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| 研究機関 | 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 |
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研究代表者 |
青木 裕之 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構, 原子力科学研究部門 J－PARCセンター, 研究主幹 (90343235)
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| 研究分担者 |
宮崎 司 一般財団法人総合科学研究機構(総合科学研究センター(総合科学研究室)及び中性子科学センター(研究開発, 中性子科学センター, 室長 (70789940)
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| 研究期間 (年度) |
2017-06-30 – 2020-03-31
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| キーワード | 高分子薄膜 / ナノ構造 / 超解像光学顕微鏡 / 中性子散乱 |
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| 研究成果の概要 |
高分子材料のナノ構造を精密評価するための新しい構造解析手法を提案することを目的として、超解像光学顕微鏡および斜入射小角中性子散乱法（GI-SANS）を組み合わせた実空間と逆空間の双方からの構造解析の開発を行った。本研究では超解像顕微鏡及びGI-SANSの同時計測のため、それぞれの要素技術の高度化を行った。超解像顕微鏡については位相マスクの開発によってXYZ方向において約20 nmのほぼ等方的な三次元空間分解能を達成した。一方、GI-SANSでは集光ミラーの開発によって従来6倍の感度での測定を可能とし、顕微鏡及び散乱法での同時計測を実現するための手法の開発を行うことができた。
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| 自由記述の分野 |
高分子物性
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
高分子材料中のナノ構造を評価するためには、顕微鏡による実空間観察と散乱法による逆空間観察が行われるが、それぞれに長所・短所があり、これらを相補的に利用することが必要である。本研究においては、バルク中の単一高分子鎖までを観察可能な方法論を示した。これにより高分子材料の内部構造の精緻解析が可能となり、材料の基礎物性の解明に貢献するものと考えられる。
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