本研究では強誘電体HfO2を用いたデバイスに関する材料・デバイス・応用に関する研究を行った。材料面では、酸化物半導体IGZOが強誘電体HfO2と良好な界面を形成することを見出し、またHfO2系薄膜における強誘電性発現の起源を第一原理計算により明らかにした。デバイス面では強誘電体HfO2を用いたFeFETのデバイスモデルを分極のダイナミクスと電荷トラップを含めて包括的に構築するとともに三次元積層型高密度メモリデバイスを考案しプロトタイプ実証に成功した。応用面では強誘電体HfO2 FeRAMをモノリシック集積した混載RAMのためにIGZOをアクセストランジスタを用いることを提案し有用性を実証した。
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