本研究の目的は、高強度光学レーザー生成内殻電離プラズマを用いたX線増幅の物理機構の解明である。まず、信号スペクトルと参照スペクトルを比較することでX線スペクトルの変化をシングルショットで診断することができる、空間分解シングルショットスペクトロメーターを開発した。更に、このスペクトロメーターを用いて、ハイパワーフェムト秒レーザー生成プラズマを透過したXFELのスペクトル計測を行った。X線増幅は観測されなかったが、フェムト秒~ピコ秒領域におけるプラズマ中のイオンの束縛電子の挙動を調べることができた。この成果は、プラズマ中のゲイン形成の解明のために重要な知見である。
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