| 研究課題/領域番号 |
19340014
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
幾何学
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
高山 茂晴 東京大学, 大学院・数理科学研究科, 准教授 (20284333)
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| 連携研究者 |
平地 健吾 東京大学, 大学院・数理科学研究科, 教授 (60218790)
今野 宏 東京大学, 大学院・数理科学研究科, 准教授 (20254138)
高木 俊輔 東京大学, 大学院・数理科学研究科, 准教授 (40380670)
大沢 健夫 名古屋大学, 大学院・多元数理科学研究科, 教授 (30115802)
満渕 俊樹 大阪大学, 大学院・理学研究科, 教授 (10112278)
佐藤 栄一 九州大学, 大学院・数理科学研究院, 教授 (10112278)
林本 厚志 国立長野高専, 一般科, 准教授 (90342493)
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| 研究協力者 |
MOUROUGANE Christophe フランスレンヌ大学, 教授
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| 研究期間 (年度) |
2007 – 2010
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| キーワード | 多重標準束 / 乗数イデアル層 / 退化族 / ホッジ計量 |
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| 研究概要 |
滑らかな固有ケーラー射f : X→YとX上の中野半正なエルミートベクトル束(E, h)に対して,随伴束型のベクトル束K_{ X/Y}(E)の高次順像層R^qf_* K_{ X/Y}(E)は局所自由層であること、およびある自然なエルミート計量,ホッジ計量とよばれる、が定義されその曲率が中野半正であることを示した。さらにf : X→Yが滑らかとは限らない場合にもfが滑らかな所での順像層の正値性が特異点集合をこえて拡張されることを示した。
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