次世代LSIのための信号劣化回避型テスト方式に関する研究

2009 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 19500047
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 九州工業大学
• 研究代表者: 温 暁青 九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 教授 (20250897)
• 研究分担者: 梶原 誠司 九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 教授 (80252592)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2009
• キーワード: LSIテスト / 高信頼化

研究概要

本研究では、LSI回路の実速度スキャンテストのキャプチャモードにおける誤動作の主な原因として、テスト入力で活性された長いパスの近傍(クリティカルエリア)の過度な電圧降下(IR-Drop)によるパス遅延の増加にあることに突き止めた。これに基づいて、長いパスの活性化情報、近傍情報、及び状態遷移情報を反映したCCT(Critical Capture Transition)という評価基準を提案し、テスト入力ごとの誤動作の予測を可能にした。更に、クリティカルエリアに影響を与える冗長ビットを抽出し、それにそのクリティカルエリア内のキャプチャ電力を減少させる論理値を決定する手法を提案した。これによって、誤テスト問題の根本原因を解決する高度な誤テスト回避方式を確立した。

研究成果

• [雑誌論文] シグナルインテグリティ考慮型LSIテストを目指して (2009)
  • 著者名/発表者名: 温暁青
  • 雑誌名: 信頼性学会誌 Vol.31,No.7 ページ: 498-505
  • 査読あり
• [雑誌論文] High Launch Switching Activity Reduction in At-Speed Scan Testing using CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme (2009)
  • 著者名/発表者名: K. Miyase, X. Wen, H. Furukawa, Y. Yamato, S. Kajihara, P. Girard, L.-T. Wang, M. Tehranipoor
  • 雑誌名: IEICE Trans. Inf. & Syst. Vol.E93-D,No.1 ページ: 2-9
  • 査読あり
• [雑誌論文] Power Supply Noise Reduction for At-Speed Scan Testing in Linear-Decompression Environment (2009)
  • 著者名/発表者名: M.-F. Wu, J.-L. Huang, X. Wen, K. Miyase
  • 雑誌名: IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems Vol.28,No.11 ページ: 1767-1776
  • 査読あり
• [雑誌論文] Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Kajihara, S. Morishima, M. Yamamoto, X. Wen, M. Fukunaga, K. Hatayama, T. Aikyo
  • 雑誌名: IPSJ Transaction of System LSI Design Methodology Vol.1 ページ: 104-115
  • 査読あり
• [雑誌論文] Low Capture Switching Activity Test Generation for Reducing IR-Drop in At-Speed Scan Testing (2008)
  • 著者名/発表者名: X. Wen, K. Miyase, T. Suzuki, S. Kajiihara, L.-T. Wang, K.K. Saluja, K. Kinoshita
  • 雑誌名: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Special Issue on Low Power Testing Vol.24 ページ: 379-391
  • 査読あり
• [雑誌論文] Test Strategies for Low-Power Devices (2008)
  • 著者名/発表者名: C.P. Ravikumar, M. Hirech, X. Wen
  • 雑誌名: Journal of Low Power Electronics Vol.4
  • 査読あり
• [雑誌論文] A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction During Scan Testing (2007)
  • 著者名/発表者名: X. Wen, S. Kajiihara, K. Miyase, T. Suzuki, K.K. Saluja, L.-T. Wang, K. Kinoshita
  • 雑誌名: IEICE Trans. Inf. & Syst. E90-D,No.9 ページ: 1398-1405
  • 査読あり
• [学会発表] A Path Selection Method for Delay Test Targeting Transistor Aging (2010)
  • 著者名/発表者名: M. Noda, S. Kajihara, Y. Sato, K. Miyase, X. Wen, Y. Miura
  • 学会等名: Digest of First IEEE Int'l Workshop on Reliability Aware System Design and Test
  • 年月日: 20100000
• [学会発表] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes (2009)
  • 著者名/発表者名: S. Oku, S. Kajihara, K. Miyase, X. Wen, Y. Sato
  • 学会等名: Proc. Int'l Symp. on VLSI Design, Automation, and Test
  • 年月日: 20090000
• [学会発表] On Calculation of Delay Range in Fault Simulation for Test Cubes (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Yamato, X. Wen, K. Miyase, H. Furukawa, S. Kajihara
  • 学会等名: Proc. IEEE 15th Pacific Rim Int'l Symp. on Dependable Computing, Automation, and Test
  • 年月日: 20090000
• [学会発表] CAT: A Critical-Area-Targeted Test Set Modification Scheme for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing (2009)
  • 著者名/発表者名: K. Enokimoto, X. Wen, Y. Yamato, K. Miyase, H. Sone, S. Kajihara, M. Aso, H. Furukawa
  • 学会等名: Proc. IEEE Asian Test Symp.
  • 年月日: 20090000
• [学会発表] A Novel Post-ATPG IR-Drop Reduction Scheme for At-Speed Scan Testing in Broadcast-Scan-Based Test Compression Environment (2009)
  • 著者名/発表者名: K. Miyase, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, Y. Yamato, X. Wen, S. Kajihara
  • 学会等名: Proc. IEEE/ACM Int'l Conf. on Computer Aided Design
  • 年月日: 20090000
• [学会発表] X-Identification According to Required Distribution for Industrial Circuits (2009)
  • 著者名/発表者名: I. Beppu, K. Miyase, Y. Yamato, X. Wen, S. Kajihara
  • 学会等名: Proc. IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
  • 年月日: 20090000
• [学会発表] A Capture- Safe Test Generation Scheme for At-Speed Scan Testing (2008)
  • 著者名/発表者名: X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, H. Furukawa, Y. Yamato, A. Takashima, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, K.K. Saluja
  • 学会等名: Proc. IEEE European Test Symp.
  • 年月日: 20080000
• [学会発表] Reducing Power Supply Noise in Linear-Decompressor-Based Test Data Compression Environment for At-Speed Scan Testing (2008)
  • 著者名/発表者名: M. -F. Wu, J. -L. Huang, X. Wen, K. Miyase
  • 学会等名: Proc. IEEE Int'l Test Conf.
  • 年月日: 20080000
• [学会発表] GA-Based X-Filling for Reducing Launch Switching Activity in At-Speed Scan Testing (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Yamato, X. Wen, K. Miyase, H. Furukawa, S. Kajihara
  • 学会等名: Proc. IEEE Int'l Workshop on Defect Based Testing
  • 年月日: 20080000
• [学会発表] Identification of IR-drop Hot-spots in Defective Power Distribution Network Using TDF ATPG (2008)
  • 著者名/発表者名: J. Ma, J. Lee, M. Tehranipoor, X. Wen, A. Crouch
  • 学会等名: Proc. IEEE Int'l Workshop on Defect Based Testing
  • 年月日: 20080000
• [学会発表] Effective IR-Drop Reduction in At-Speed Scan Testing Using Distribution-Controlling X-Identification (2008)
  • 著者名/発表者名: K. Miyase, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, Y. Yamato, H. Furukawa, X. Wen, S. Kajihara
  • 学会等名: Proc. IEEE/ACM Int'l Conf. on Computer Aided Design
  • 年月日: 20080000
• [学会発表] CTX: A Clock- Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing (2008)
  • 著者名/発表者名: H. Furukawa, X. Wen, K. Miyase, Yuta Yamato, S. Kajihara, Patrick Girard, L. -T. Wang, M. Teharanipoor
  • 学会等名: Proc. IEEE Asian Test Symp.
  • 年月日: 20080000
• [学会発表] Critical-Path-Aware X-Filling for Effective IR-Drop Reduction in At-Speed Scan Testing (2007)
  • 著者名/発表者名: X. Wen, K. Miyase, T. Suzuki, S. Kajihara, Y. Ohsumi, K.K. Saluja
  • 学会等名: Proc. IEEE/ACM Design Automation Conf.
  • 年月日: 20070000
• [学会発表] A Novel Scheme to Reduce Power Supply Noise for High-Quality At-Speed Scan Testing (2007)
  • 著者名/発表者名: X. Wen, K. Miyase, S. Kajihara, T. Suzuki, Y. Yamato, P. Girard, Y. Ohsumi, L. -T. Wang
  • 学会等名: Proc. IEEE Int'l Test Conf.
  • 年月日: 20070000
• [学会発表] A Method for Improving the Bridging Defect Coverage of a Transition Delay Test Set (2007)
  • 著者名/発表者名: K. Miyase, X. Wen, S. Kajihara, M. Haraguchi, H. Furukawa
  • 学会等名: Proc. IEEE Int'l Workshop on Defect Based Testing
  • 年月日: 20070000
• [学会発表] Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation (2007)
  • 著者名/発表者名: S. Kajihara, S. Morishima, M. Yamamoto, X. Wen, M. Fukunaga, K. Hatayama, T. Aikyo
  • 学会等名: Proc. IEEE/ACM Int'l Conf. on Computer-Aided Design
  • 年月日: 20070000
• [図書] Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices (2009)
  • 著者名/発表者名: X. Wen, S. Wang
  • 総ページ数: 65-115
  • 出版者: Springer
• [図書] Advanced SOC Test Architectures-Towards Nanometer Designs (2007)
  • 著者名/発表者名: P. Girard, X. Wen, N. A. Touba
  • 総ページ数: 37-103
  • 出版者: Elsevier Science
• [備考] ホームページ等
  • URL: http://aries3a.cse.kyutech.ac.jp/
• [産業財産権] 論理値決定方法及び論理値決定プログラム (2008)
  • 発明者名: 宮瀬絋平, 温暁青, 梶原誠司, 大和勇太
  • 権利者名: 九州工業大学
  • 産業財産権番号: 特願2008-211473
  • 出願年月日: 2008-08-20
• [産業財産権] 判別方法及びプログラム (2008)
  • 発明者名: 呉孟帆, 黄俊郎, 温暁青, 宮瀬絋平
  • 権利者名: 九州工業大学・台湾大学
  • 産業財産権番号: 特願2008-273484
  • 出願年月日: 2008-10-23