ソフトエラー対策VLSI回路の考案

2009 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 19560335
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 電子デバイス・電子機器
• 研究機関: 千葉大学
• 研究代表者: 伊藤 秀男 千葉大学, 大学院・融合科学研究科, 教授 (90042647)
• 研究分担者: 難波 一輝 千葉大学, 大学院・融合科学研究科, 助教 (60359594)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2009
• キーワード: 回路設計 / CAD / ソフトエラー / VLSI / ラッチ / スキャン設計 / テスト容易化設計 / 遅延故障

研究概要

ソフトエラー(以下SEと略記)とは,VLSIがα線や宇宙線を受けることにより発生する一次的誤りである.本研究では,(a)SE対策VLSI回路の考案と,(b)SE対策VLSI回路のテストとテスト容易化設計についての研究成果を得た.(a)では,組合せ回路部で発生したSEパルスをマスクする方法や耐ソフトエラーラッチまたはフリップフロップの設計などを,(b)では,SE対策FFの遅延故障テスト容易化スキャン構造の提案などの成果を得た.

研究成果

• [雑誌論文] Construction of Soft-Error-Tolerant FF with Wide Error Pulse Detecting Capability (2009)
  • 著者名/発表者名: Shuagyu Ruan, Kazuteru Namba, Hideo Ito
  • 雑誌名: IEICE Trans.Inf.&Syst. Vol.E92-D, No.8 ページ: 1534-1541
  • 査読あり
• [雑誌論文] Circuit and Latch Capable of Masking Soft Errors with Schmitt Trigger (2008)
  • 著者名/発表者名: Yoichi Sasaki, Kazuteru Namba, Hideo Ito
  • 雑誌名: J.Electronic Test.:Theory & Appl. Vol.24, No.1-3 ページ: 11-19
  • 査読あり
• [学会発表] BILBO FF with soft error correcting capability (2010)
  • 著者名/発表者名: Kazuteru NAMBA, Hideo ITO
  • 学会等名: 電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2010-04-13
• [学会発表] 耐ソフトエラー性を有するRSフリップフロップ (2010)
  • 著者名/発表者名: 中島健吾, 難波一輝, 伊藤 秀男
  • 学会等名: 電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
  • 発表場所: 京都
  • 年月日: 2010-03-05
• [学会発表] ラッチ内2重ノード反転ソフトエラーの耐性設計 (2009)
  • 著者名/発表者名: 坂田雅俊, 難波一輝, 伊藤 秀男
  • 学会等名: 電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2009-10-16
• [学会発表] Soft Error Hardened FF Capable of Detecting Wide Error Pulse (2008)
  • 著者名/発表者名: Shuangyou Ruan, Kazuteru Namba, Hideo Ito
  • 学会等名: 23^<rd> IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT2008)
  • 発表場所: Boston
  • 年月日: 2008-10-02
• [学会発表] ソフトエラーラッチの調査と分類 (2008)
  • 著者名/発表者名: 坂田雅俊, 難波一輝, 伊藤 秀男
  • 学会等名: 電子情報通信学会, 機能集積情報システム研究会
  • 発表場所: 筑波市
  • 年月日: 2008-06-27
• [学会発表] 幅の広いエラーパルス検出機能を有する耐ソフトエラーFF (2008)
  • 著者名/発表者名: 阮 双玉, 難波一輝, 伊藤 秀男
  • 学会等名: 電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2008-04-23
• [学会発表] 耐ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響 (2008)
  • 著者名/発表者名: 中島健吾, 難波一輝, 伊藤 秀男
  • 学会等名: 電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2008-04-23
• [学会発表] SEU/SET対策FFを用いた遅延故障テスト容易化スキャン構造 (2008)
  • 著者名/発表者名: 池田卓史, 難波一輝, 伊藤 秀男
  • 学会等名: 2008年電子情報通信学会総合大会
  • 発表場所: 北九州市
  • 年月日: 2008-03-18
• [学会発表] 二線式論理を用いたFPGAのソフトエラーに対するフォールトセキュア性 (2008)
  • 著者名/発表者名: 三浦健宏, 難波一輝, 伊藤 秀男
  • 学会等名: 電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2008-02-08
• [学会発表] Soft Error Hardened Latch Scheme for Enhanced Scan Based Delay Fault Testing (2007)
  • 著者名/発表者名: Takashi Ikeda, Kazuteru Namba, Hideo Ito
  • 学会等名: 22^<nd> IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT2007)
  • 発表場所: Rome
  • 年月日: 2007-09-27
• [学会発表] 遅延故障テスト容易化ソフトエラーラッチの設計 (2007)
  • 著者名/発表者名: 池田卓史, 難波一輝, 伊藤 秀男
  • 学会等名: 電子情報通信学会, ディペンダブルコンピューティング研究会
  • 発表場所: 東京
  • 年月日: 2007-04-20
• [産業財産権] 遅延故障テスト容易化耐ソフトエラーラッチ (2007)
  • 発明者名: 池田卓史, 難波一輝, 伊藤秀男
  • 権利者名: 千葉大学
  • 産業財産権番号: 半導体集積回路特願2007-111043号
  • 出願年月日: 2007-04-19