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2008 年度 研究成果報告書

CMOS互換不揮発メモリによる製造後補正を前提とした新アナログ回路設計法の研究

研究課題

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研究課題/領域番号 19560347
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 電子デバイス・電子機器
研究機関九州工業大学

研究代表者

中村 和之  九州工業大学, マイクロ化総合技術センター, 教授 (60336097)

連携研究者 森本 浩之  九州工業大学, マイクロ化総合技術センター, 産学官連携研究員
研究期間 (年度) 2007 – 2008
キーワードCMOS / 集積回路 / アナログ回路 / 素子ばらつき / トリミング / 製造後補正 / 不揮発メモリ / レギュレータ
研究概要

従来のワーストケース設計法から、製造後にトリミングを行うことを前提とした全く新しい回路設計法の提案・研究を行った。具体的には、アナログ回路ブロックで汎用性の高いブロックであるリファレンス電圧発生回路にフォーカスし、これらの回路に新規回路設法を適用した。その結果、従来の回路と互換性を確保しつつ、アナログトリミングの実装を可能にした新規なインターフェース方式を考案し、チップの開発・評価を行った。

  • 研究成果

    (2件)

すべて 2010 2008

すべて 学会発表 (1件) 産業財産権 (1件)

  • [学会発表] An Electrically Adjustable 3-Terminal Regulator with Post-Fabrication Level-Trimming Function2010

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Morimoto, Hiroki Koike, Kazuyuki Nakamura
    • 学会等名
      15th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC 2010)
    • 発表場所
      採択済み
    • 年月日
      20100100
  • [産業財産権] 電子デバイス2008

    • 発明者名
      森本浩之, 中村和之
    • 権利者名
      九州工業大学
    • 産業財産権番号
      PCT/JP2008/051318
    • 出願年月日
      2008-01-29

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公開日: 2011-06-18   更新日: 2016-04-21  

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