2008 年度研究成果報告書

テスト支援回路の故障影響度解析と耐故障設計に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号	19700044
研究種目	若手研究(B)
配分区分	補助金
研究分野	計算機システム・ネットワーク
研究機関	広島市立大学
研究代表者	市原英行広島市立大学, 大学院・情報科学研究科, 准教授 (50326427)
研究期間 (年度)	2007 – 2008
キーワード	設計自動化 / ディペンダブルコンピューティング / BIST / フォールトトレラント
研究概要	LSIの組込自己テスト(Built-in Self Test: BIST)のための,耐故障性をもつ新しい応答圧縮器(BISTを行うための構成要素であり,テスト結果を保持する回路)である符号化応答圧縮器を提案した.符号化応答圧縮器は壊れている状態でも,テスト対象回路の故障は必ず検知でき,さらにテスト対象回路が正常である場合は高い確率で応答圧縮器の故障を検知できる.また,必要なハードウェアサイズは従来の耐故障性を考えない応答圧縮器に比べて1.6倍程度であった.