| 研究課題/領域番号 |
19K05289
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 審査区分 |
小区分30010:結晶工学関連
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| 研究機関 | 岩手大学 |
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研究代表者 |
吉本 則之 岩手大学, 理工学部, 教授 (80250637)
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| 研究分担者 |
葛原 大軌 岩手大学, 理工学部, 准教授 (00583717)
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| 研究期間 (年度) |
2019-04-01 – 2022-03-31
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| キーワード | 有機薄膜 / X線回折 / 電子線ホログラフィー / 放射光 / 電位分布 / 結晶成長 / 2D-GIXD / その場観察 |
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| 研究成果の概要 |
有機薄膜形成過程の結晶成長機構を解明するため、成膜中のin situ2次元X線回折実験を行った。この方法により有機薄膜の初期層および膜の形成過程の結晶構造を解明することが可能となり、有機半導体の分子構造と成長機構の解明や結晶構造の膜厚依存性を明らかにした。 また、電子線ホログラフィーによって有機半導体薄膜内の電位分布の観測を行うことにより、有機半導体薄膜の構造と物性を総合的に明らかにした。
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| 自由記述の分野 |
材料工学
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
有機薄膜形成過程のin-situ2次元X線回折実験用の成膜・観察装置および実験方法を開発した。この方法により有機半導体薄膜の成長機構の解明や結晶構造を明らかすることが可能となった。特に2D-GIXDによる薄膜の評価は現在多くの研究者に利用されておりこの分野における標準的な評価方法として普及・定着している。また、電子線ホログラフィーによって有機半導体デバイス内部の電位分布を定量的に計測できること実証した。これらのことは、学術的意味のみならず、有機半導体を用いた電子デバイスの実用化にあたって直面するさまざまな困難を解決する基礎的な知見として社会の発展に貢献するものである。
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