|
本研究では、次世代エッジデバイスとして開発が進むMPD（Memory-based Programable Device）の製造から運用、リタイアまでのライフサイクル全体での高信頼性を向上させる技術を確立した。主な成果は以下の通りである。①MPDデバイスの製造段階の歩留まり向上のために、メモリセル間の接続配線故障に対する高品質な検出と箇所特定可能診断用テスト生成法を確立した。②デバイス運用中の高信頼化のためのマルチサイクルパワーオンセルフテストを確立した。③MPDデバイス動作中の劣化検知技術（発振・計数一体式再構成可能遅延計測回路）を提案し、MRDデバイスでの実装方法を確立した。
|
