極低消費電力かつ高速動作が可能なデバイスとしてトンネルFETが期待されるが、その中でも材料的な観点からソース領域にGaAsSbをチャネル領域にInGaAsを採用したType-IIヘテロ接合TFETが有力である。加えて、デバイスの構造の観点からはソース・チャネル接合の微細化を横方向で可能とするナノシートチャネル構造の採用が必須である。今回、前段階としてソース・ドレイン領域を同じInGaAs再成長層で形成したナノシートチャネルMOSFETの作製した。加えて、同一基板上に作製したMOSFETからの移動度評価を行った。これらの技術を応用することでナノシートトンネルFETの性能改善が期待される。
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