本研究では、細胞の基質側細胞膜と基質との間の距離の絶対値を測定できる方法の開発を目指した。具体的には、干渉反射顕微鏡法(反射干渉顕微鏡法:RICM, reflection interference contrast microscopy)の改良を行う。これまでに三つの異なるレーザー波長を用いて球体ポリスチレンビーズの反射干渉像を取得した。理論解析に改良を行い、様々な誤差要因をそれぞれ定量的に検証できるようにした。この3波長RICM法では、三波長それぞれの強度の比について唯一解の得られる条件に基づき、ポリスチレンビーズの3次元形状をナノメートル精度で評価できることを確認した。
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