| 研究成果の概要 |
本研究は直線装置PANTAで高周波揺動 ETG (Electron Temperature Gradient) モードの同定及び非線形的諸特性を評価することを目指した. 最初に高周波ETGモードを直接測定するため高周波用静電プローブの制作を行い, 従来の静電プローブより高い周波数 (< 2 MHz) まで揺動計測は可能になった. また, ヘリウム (He) プラズマを用いてPANTAにおける乱流揺動の諸特性を高周波用静電プローブで詳細に調べた結果, 低磁場実験条件下で低周波密度揺動 ~5.5 kHz と高周波密度揺動 ~200 kHzが同時に観測された.
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
直線装置PANTAにおける乱流揺動研究に関して, 高周波揺動まで観測できる計測方法の確立は, 多スケール揺動との非線形相互作用の研究などに貢献できると期待される. また, ヘリウムヘリコンプラズマにおける乱流揺動の磁場依存性の実験結果は, 学術的に価値があると考えられる.
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