研究課題
基盤研究(C)
陽電子消滅ガンマ線同時計測エネルギー分析法によって、金属材料の熱履歴分析と金属薄膜の生成過程分析を検討した。熱履歴分析においては、酸化膜の影響が排除できるときには金属の熱処理履歴が検出可能であった。金属薄膜の生成過程に関しては、蒸着膜とメッキ膜の区別と膜厚の計測の可能性が示された。
すべて 2010 2008
すべて 学会発表 (2件)