論理回路のソフトエラーを引き起こすSETパルスの実験的波形解明

2009 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 20760228
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 電子デバイス・電子機器
• 研究機関: 独立行政法人宇宙航空研究開発機構
• 研究代表者: 小林 大輔 独立行政法人宇宙航空研究開発機構, 宇宙科学研究本部, 助教 (90415894)
• 研究期間 (年度): 2008 – 2009
• キーワード: ソフトエラー / 電子デバイス・機器 / 半導体物性 / 放射線・X線・粒子線 / 宇宙線 / モデリング

研究概要

放射線が論理回路に当たるとパルス状のノイズが発生し回路が誤動作してしまう.このノイズパルスをSETパルスと呼び,対策のためにその波形を明らかにする必要がある.そのための手法を提案し,半導体製造技術の一つである完全空乏型SOI技術で作成した論理回路に適用して,そこで発生するSETパルスの波形を観測することに成功した.更に,その波形を物理的に説明する解析式を導出した.

研究成果

• [雑誌論文] Device-physics-based analytical model for single event transients in SOI CMOS logics (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Kobayashi, K. Hirose, V. Ferlet-Cavrois, D. McMorrow, T. Makino, H. Ikeda, Y. Arai, M. Ohno
  • 雑誌名: IEEE Transactions on Nuclear Science vol.56,no.6 ページ: 3043-3049
  • 査読あり
• [雑誌論文] Waveform observation of digital single-event transients employing monitoring transistor technique (2008)
  • 著者名/発表者名: D. Kobayashi, K. Hirose, Y. Yanagawa, H. Ikeda, H. Saito, V. Ferlet-Cavrois, D. McMorrow, M. Gaillardin, P. Paillet, Y. Arai, M. Ohno
  • 雑誌名: IEEE Transactions on Nuclear Science vol.55,no.6 ページ: 2872-2879
  • 査読あり
• [学会発表] SOI CMOSテバイスで発生する放射線誘起パルスノイズSETの解析モデル (2009)
  • 著者名/発表者名: 小林大輔, 廣瀬和之
  • 学会等名: 2009年秋季応用物理学会学術講演会
  • 発表場所: 富山大学(富山県富山市)
  • 年月日: 20090908-20090911
• [学会発表] Device-physics-based analytical model for single event transients in SOI CMOS logics (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Kobayashi, K. Hirose, V. Ferlet-Cavrois, D. McMorrow, M. Gaillardin, T. Makino, H. Ikeda, Y. Arai, M. Ohno
  • 学会等名: presented in 2009 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC)
  • 発表場所: Quebec City, Quebec, Canada
  • 年月日: 20090720-20090724
• [学会発表] Analytical expression for temporal width characterization of radiation-induced pulse noises in SOI CMOS logic gates (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Kobayashi, T. Makino, K. Hirose
  • 学会等名: in Proc. 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
  • 発表場所: Montreal, Canada
  • 年月日: 20090426-20090430
• [学会発表] Waveform observation of digital single-event transients employing monitoring transistor technique (2008)
  • 著者名/発表者名: D. Kobayashi, K. Hirose, Y. Yanagawa, H. Ikeda, H. Saito, V. Ferlet-Cavrois, P. Paillet, D. McMorrow, Y. Arai, M. Ohno
  • 学会等名: presented in 2008 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC)
  • 発表場所: Tucson, AZ
  • 年月日: 20080714-20080718
• [備考] 第27回(2009年秋季)応用物理学会講演奨励賞受賞