| 研究課題/領域番号 |
20K04239
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 審査区分 |
小区分18040:機械要素およびトライボロジー関連
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| 研究機関 | 鳥取大学 |
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研究代表者 |
小野 勇一 鳥取大学, 工学研究科, 教授 (50335501)
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| 研究分担者 |
森戸 茂一 島根大学, 学術研究院理工学系, 教授 (00301242)
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| 研究期間 (年度) |
2020-04-01 – 2023-03-31
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| キーワード | 応力・ひずみ測定 / 実験応力解析 / 金属疲労 / めっき法 |
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| 研究成果の概要 |
電着金属薄膜（銅薄膜，ニッケル薄膜）が繰返し負荷を受けることにより発生する成長粒子を利用した応力測定法において，成長粒子をXRD法により解析して得られる結晶学的特徴を利用した主応力測定法を新たに提案した．すなわち，成長粒子の配向度が二軸応力状態に依存して変化することをロットゲーリングファクターにより定量化して，主応力測定のための較正式を確立した．本手法は応力集中箇所などの微視的な領域の応力測定に有効な手法といえる．
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| 自由記述の分野 |
材料力学，機械設計学
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
繰返し負荷により金属薄膜に発生する成長粒子をXRD法により詳細に解析した報告はこれまでになく，配向性が二軸応力に依存するという新たな知見が得られた．この結果はEBSD法により解析した結果とよく一致しており，妥当な結果であるといえる．この結晶学的特徴を応力測定に応用するという考え方が独創的であり，新規性があると考えられる．また，応力集中箇所などの微視的領域の繰返し応力を本手法により計測できるようになれば，安全・安心な機械の設計に貢献できるので，社会的意義も高いと言える．
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