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2022 年度 研究成果報告書

状態密度を次元制御した超急峻スイッチング新構造トンネルFETの開発

研究課題

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研究課題/領域番号 20K14797
研究種目

若手研究

配分区分基金
審査区分 小区分21060:電子デバイスおよび電子機器関連
研究機関国立研究開発法人産業技術総合研究所

研究代表者

加藤 公彦  国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 主任研究員 (30815486)

研究期間 (年度) 2020-04-01 – 2023-03-31
キーワードトンネルFET / TFET / シリコン / 低消費電力 / 急峻スイッチング / オン電流 / 集積回路
研究成果の概要

超低消費電力集積回路に向け、急峻スイッチング素子として有望なトンネルFET(TFET)の高性能化を行った。CMOSプラットフォーム上で二次元状態密度活用のための新規素子構造を提案し、性能予測、プロセス開発、実験実証を行った。提案構造は、Si Fin形状の側面に斜めイオン注入法によりP型/N型の高不純物濃度層が形成される。TCADシミュレーションより、動作電圧0.3 Vにおいて5桁以上の急峻スイッチング実現可能性が示された。実験実証では、高自由度な素子作製のため、新規ネガレジストを用いた電子線リソグラフィ技術を構築した。最小Fin幅10nmを下回る微細TFETを作製し、電流増大を達成した。

自由記述の分野

半導体デバイス工学

研究成果の学術的意義や社会的意義

半導体集積回路の低消費電力化は、世の中で急速に発展するIoT/AI技術を支える重要技術である。半導体トランジスタはそれら集積回路の基盤素子であり、トランジスタの低消費電力は、次世代エレクトロニクスのエネルギー高効率化に幅広く貢献する。本研究は、既存半導体製造技術を積極的に活用し、Si CMOSラインを念頭に置いていることも重要な特徴である。Siは他の新材料系に比べてオン電流増大に難しさがあるものの、その課題克服に向けて真正面から取り組んだ研究である。本研究で開発したSiを基軸にしたTFETのオン電流増大技術は、将来の半導体集積回路に直結し得る、実用性のある技術と言える。

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公開日: 2024-01-30  

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