研究課題
基盤研究(B)
空孔型格子欠陥の高感度プローブである陽電子をマイクロビーム化することに成功し,欠陥の二次元マップを取得可能な陽電子プローブマイクロアナライザーを開発した。磁場輸送された陽電子ビームの磁場切離,透過型輝度増強法が開発要素である。ビーム径は14.5μmで,対消滅γ線の形状の位置依存性から欠陥マップを求める。純鉄の塑性変形誘起欠陥分布計測を行い,空孔クラスターの局所形成の実証や破断箇所の予測可能なことを示した。
すべて 2011 2010 2009 その他
すべて 雑誌論文 (6件) (うち査読あり 6件) 学会発表 (11件) 図書 (1件) 備考 (1件)
J. Phys : Conf. Series
巻: 262 ページ: 012044-1-6
鉄と鋼
巻: 97 ページ: 266-272
Appl. Phys. Lett
巻: 94 ページ: 194104(1-3)
Rad. Phys. Chem
巻: 78 ページ: 1096-1098
Anal. Sci
巻: 25 ページ: 837-844
PF News
巻: 27 ページ: 26-29
http://chem.tf.chiba-u.jp/gacb11/research.html