研究課題
若手研究(B)
本研究では, 製造ばらつきフリー高信頼多値VLSIの系統的設計論の確立を目的とした基礎実験を行った. 多値回路向け高水準設計・検証システムの構築と回路シミュレーションによる性能実証, 不揮発性新デバイスを用いた多値回路ブロックとその適応的ばらつき補正技術の提案, ならびに本手法に基づいた高信頼VLSIの設計と動作検証を通し, 本技術に基づく高性能・高信頼次世代VLSIの実現が可能であることを示した.
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10th IEEE International NEWCAS Conference
巻: (掲載確定)
Proceedings of 2012 IEEE International Symposium on Circuits & Systems
Proceedings of the 56th Magnetism and Magnetic Materials Conference
ページ: 480-481
Booklet of the 19th International Workshop on Post-Binary ULSI Systems
ページ: 20-25
http://www.ngc.riec.tohoku.ac.jp/