3次元アトムプローブを用いて、刃状転位やらせん転位における溶質原子の3次元分布を観察した。転位への溶質原子の偏析を効率よく観察するために、新しい試料作製法を開発した。測定試料は集束イオンビーム加工装置(FIB)で加工するが、FIBに具備する走査電子顕微鏡では転位観察は困難である。そのため、FIBによって針試料を作製してから透過型電子顕微鏡観察を行い、針試料内での転位線の位置を確認し、再度追加工を行い。針先端に転位を含む試料を作製し、転位における溶質原子の3次元元素分布を得た。この手法は転位に限らず、さまざまな格子欠陥に適用できるため、派生効果でボイド周囲の偏析についても明らかにした。
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