多価分子イオンの分光および性質に関する詳細な実験的知見を得ることを目的に,多電子イオン同時計数VMI装置の開発を進めた。この実験装置では,分子の軟X線吸収から多段のオージェ遷移後に多価分子イオンが生成する過程において,放出されるすべての電子,および,終状態としてのイオンの同時計数することができる。イオンは飛行時間に基づく質量分析だけでなく,VMI電極系を用いてその運動量分布を反映した検出器上の位置分布も取得する。SIMIONを用いたシミュレーションに基づき電極設計と試行実験を繰り返し,おおむね装置の開発に成功した。
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