本研究では、露出数の減少と測定精度の増加のトレードオフを制御するため、新しい適応型テストの枠組みを開発した。具体的には、最新の等質テスト構成技術を用いた等質適応型テストを提案した。本手法では、事前にアイテムバンクを分割して情報量が等質な項目集合を複数構成し、テストの前半に項目集合から項目選択し、テストの後半にアイテムバンク全ての項目から項目選択する。本手法の利点として以下の点を確認した。(1)測定誤差を従来の適応型テストと同程度にすることができた(2)項目をできる限り一様に出題でき、項目の暴露数を減少させることができた(3)アイテムバンクの特性やテストの終了条件に関わらず上記の特性を持つ。
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