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2023 年度 研究成果報告書

初期定着細菌群の付着を抑制する表面処理法の確立とインプラント周囲炎予防への応用

研究課題

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研究課題/領域番号 21K17048
研究種目

若手研究

配分区分基金
審査区分 小区分57050:補綴系歯学関連
研究機関東京歯科大学

研究代表者

小田 由香里  東京歯科大学, 歯学部, 助教 (20778518)

研究期間 (年度) 2021-04-01 – 2024-03-31
キーワードstreptococci / 中性2%NaF / 大気圧プラズマ照射
研究成果の概要

歯面の初期定着細菌であるstreptococciの付着を抑制することは、病原性を持つ後期定着細菌群の付着抑制に繋がる可能性が高く、化学的および物理的処理をした材料表面におけるstreptococciの付着抑制効果について評価した。
化学的処理法である中性2%NaFの塗布はチタンおよびジルコニア表面上のS.sanguinis,S.gordoniiおよびS.oralisの付着を抑制した。また、物理的処理法である大気圧プラズマ照射も、S.sanguinisおよびS.gordoniiにおいて有効であった。streptococciの付着抑制における中性2%NaFおよび大気圧プラズマ照射は有効な方法である。

自由記述の分野

インプラント

研究成果の学術的意義や社会的意義

近年、インプラント周囲炎は増加傾向にあるが、明確な予防法がないため、インプラント除去となるケースがとても多い。インプラント周囲炎の発症を防ぐ方法の確立は大きな課題である。
研究成果より、インプラント表面の処理において、化学的処理法である中性2%NaFの塗布、および物理的処理法である大気圧プラズマ照射が、streptococciの付着を抑制したため、インプラント周囲炎のバイオフィルムにおける後期定着細菌群の付着も抑制する可能性が高いと考えられ、インプラント周囲炎の予防法確立のための一歩である。また、これらの処理法は簡便であるため、実際の臨床、特にインプラントメインテナンスの場でも非常に用いやすい。

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公開日: 2025-01-30  

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