ワイドバンドギャップ材料を用いたデバイスへの社会からの要請が高まっており、酸化物材料による高性能デバイスの実現が期待されている。酸化物材料の多くは、p型化が難しいとされ、主に研究されているワイドバンドギャップ酸化物であるGa2O3も例外ではない。そこで、Ga2O3とワイドバンドギャップかつp型を示すNiOまたはNiMgOとのヘテロ接合を見据えて研究を遂行した。Ga2O3上へのNiOまたはNiMgOの結晶成長からドーピング、デバイス作製、評価を行っており、実用化に必要な知見・技術を得た。さらに、ミストCVD法という環境負荷の小さな手法でこれらの成果を得たことは、実用化に繋がることが期待できる。
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