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2010 年度 実績報告書

次世代低消費電力LSI回路のための電力調整型テスト方式に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 22300017
研究機関九州工業大学

研究代表者

温 暁青  九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 教授 (20250897)

研究分担者 梶原 誠司  九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 教授 (80252592)
宮瀬 紘平  九州工業大学, 大学院・情報工学研究院, 助教 (30452824)
キーワードLSIテスト / 低電力テスト / テスト電力調整 / 遅延テスト / 微小遅延故障 / 活性化パス / 高品質化 / 高信頼化
研究概要

平成23年度は、実速度スキャンテストにおける消費電力の影響を高精度で解析する手法を確立すること、及び、その効果を評価実験で確認することを目標に実施した結果、以下の研究成果が得られた。
研究成果1(ゲート・レイアウト混合型高精度テスト電力解析手法の確立)
ゲートレベル設計情報(論理素子の種類と接続情報)、及び、レイアウト設計情報(論理素子の配置・配線のデータ、クロックツリーのデータ、電源ネットワークのデータ)に基づいて、テスト時の電源ノイズの原因となるキャプチャ電力が活性化パスの遅延値に与える影響に関する高度な解析手法を確立した。特に、回路内の論理値変化の相対的な時間関係に着目し、対象ゲートの出力タイミングより後に発生する論理値変化を除外することによって、キャプチャ電力の解析精度を向上させた。更に、シフト電力がクロックツリーにおけるクロックスキューに与える影響を解析する手法をも確立した。これによって、テスト電力の解析精度を飛躍的に向上させることができた。
研究成果2(実回路などによるテスト電力解析手法の実験評価と改良)
研究成果1の提案手法について、まずISCAS'89とITC'02の大規模ベンチマーク回路を用いて予備実験を行い、電源ネットワーク分割サイズなどのパラメータの最適値を決定した。更に、CPUをベースにして設計された大規模実回路を用いて詳細な評価実験を行った。その結果、提案手法のテスト電力解析精度の高さが確認された。また、解析時間を短縮するため、すべての論理素子(ゲートとフリップ・フロップ)ではなく、フリップ・フロップのみを対象としたテスト電力解析実験をも行った。その結果、実用的な実行時間内で解析可能であることが分かった。この結果に基づいて、フリップ・フロップ対象型処理を追加し提案手法を改良した。

  • 研究成果

    (10件)

すべて 2010 その他

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (7件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] A Study of Capture-Safe Test Generation Flow for At-Speed Testing2010

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, X.Wen, S.Kajihara, Y.Yamato, A.Takashima, H.Furukawa, K.Noda, N.Ito, K.Hatayama, T.Aikyo, K.Saluja
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Inf.& Syst.

      巻: E93-A ページ: 1309-1318

    • 査読あり
  • [雑誌論文] A Comprehensive Analysis of Transition Fault Coverage and Test Power Dissipation for LOS and LOC Schemes2010

    • 著者名/発表者名
      F.Wu, L..Dilillo, A.Bosio, P.Girard, S.Pravossoudovitch, A.Virazel, M.Tehranipoor, X.Wen, N.Ahmed
    • 雑誌名

      ASP Journal of Lower Power Electronics

      巻: 6 ページ: 359-374

    • 査読あり
  • [学会発表] X-Identification of Transition Delay Fault Tests for Launch-off Shift Scheme2010

    • 著者名/発表者名
      K.Miyase, F.Wu, L.Dilillo, A.Bosio, P.Girard, X.Wen, S.Kajihara
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Shanghai, China
    • 年月日
      2010-12-06
  • [学会発表] Power-Aware Test for Low-Power Devices2010

    • 著者名/発表者名
      X.Wen
    • 学会等名
      IEEE Workshop on RTL and High Level Testing
    • 発表場所
      Shanghai, China
    • 年月日
      2010-12-05
  • [学会発表] Power-Aware Test for Low-Power LSI Circuits2010

    • 著者名/発表者名
      X.Wen
    • 学会等名
      International Workshop on Microelectronics Assembling and Packaging
    • 発表場所
      Fukuoka, Japan
    • 年月日
      2010-11-18
  • [学会発表] Low-Capture-Power Post-Processing Test Vectors for Test Compression Using SAT Solver2010

    • 著者名/発表者名
      K K.Miyase, M.A.Kochte, X.Wen, S.Kajihara, H.-J.Wunderlich
    • 学会等名
      IEEE Workshop on Defect and Date Driven Testing
    • 発表場所
      Austin, USA
    • 年月日
      2010-11-05
  • [学会発表] Low-Aware Test for Low-Power Devices2010

    • 著者名/発表者名
      X.Wen
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
    • 発表場所
      Kyoto, Japan
    • 年月日
      2010-10-07
  • [学会発表] Test Power Reduction : From Artillery Fire to Sniper Fire2010

    • 著者名/発表者名
      X.Wen
    • 学会等名
      International Workshop on the Impact of Low-Power Design on Test and Reliability
    • 発表場所
      Prague, Czech
    • 年月日
      2010-05-27
  • [学会発表] Power-Aware Test for Low-Power LSI Circuits2010

    • 著者名/発表者名
      X.Wen
    • 学会等名
      CMOS Emerging Technologies Workshop
    • 発表場所
      Whistler, Canada
    • 年月日
      2010-05-19
  • [備考]

    • URL

      http://aries3a.cse.kyutech.ac.jp/~wen/

URL: 

公開日: 2012-07-19  

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