| 研究概要 |
本研究では,SRAM 型 FPGA における信頼性の問題と高信頼化技術の課題を明確にした上で, FPGA の再構成可能という特徴を生かした高信頼システムの研究を行った.まず,冗長実装技術と再構成技術を用いたソフトエラーに対する高信頼化技術を提案し実装・評価を行った.さらに,システムレベルの高信頼性を保証するための信頼性評価技術について提案し FIT 値測定システムを構築した.最後に,動的再構成技術を活用したハードエラー回避技術の研究を行い,ソフトエラー・ハードエラー両方に対して自己復旧可能な高信頼システムを開発し有効性を示した.
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