ナノ半導体アナログ回路の自己校正・テスト・診断修復技術の研究

2012 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 22560319
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 電子デバイス・電子機器
• 研究機関: 群馬大学
• 研究代表者: 小林 春夫 群馬大学, 大学院・工学研究科, 教授 (20292625)
• 研究期間 (年度): 2010 – 2012
• キーワード: 集積回路 / ナノCMOS / アナログ / 自己校正 / LSI テスト

研究概要

ナノCMOSシステムLSIでのアナログ/ミックストシグナル回路の自己校正,自己テスト,自己診断・修復技術のいくつかの技術を開発した.とくにパイプラインADC,サイクリックADC,逐次比較近似ADC,インターリーブADC,時間デジタイザ回路に対して個別にこれらの技術を開発し有効性の検証を行った.

研究成果

• [雑誌論文] Two-Tone Signal Generation for ADC Testing (2013)
  • 著者名/発表者名: K. Kato, F. Abe, K. Wakabayashi, C. Gao, T. Yamada, H. Kobayashi, O. Kobayashi, K. Niitsu
  • 雑誌名: IEICE Trans. on Electronics 巻: vol.E96-C, no.6 ページ: 850-858
  • 査読あり
• [雑誌論文] Low-Distortion Sinewave Generation Method Using Arbitrary Waveform Generator (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Wakabayashi, K. Kato, T. Yamada, O. Kobayashi, H. Kobayashi, F. Abe, K. Niitsu
  • 雑誌名: Journal of Electronic Testing : Theory and Applications, Springer 巻: vol.28, Issue.5 ページ: 641-651
  • 査読あり
• [雑誌論文] Background Self-Calibration Algorithm for Pipelined ADC Using Split ADC Scheme (2011)
  • 著者名/発表者名: T. Yagi, K. Usui, T. Matsuura, S.Uemori, Y. Tan, S. Ito, H. Kobayashi
  • 雑誌名: IEICE Trans. on Electronics 巻: Vol.E94-C, No.7 ページ: 1233-1236
  • 査読あり
• [雑誌論文] Design for Testability That Reduces Linearity Testing Time of SAR ADCs (2011)
  • 著者名/発表者名: T. Ogawa, H. Kobayashi, S. Uemori, Y. Tan, S. Ito, N. Takai, T. Yamaguchi, K. Niitsu
  • 雑誌名: IEICE Trans. on Electronics 巻: Vol.E 94-C, no.6 ページ: 1061-1064
  • 査読あり
• [雑誌論文] 逐次比較近似 ADC コンパレータ・オフセット影響の冗長アルゴリズムによるディジタル補正 技術 (2011)
  • 著者名/発表者名: 小川智彦, 松浦達治, 小林春夫, 高井 伸和, 堀田正生, 傘昊, 阿部彰, 八木勝義, 森俊彦
  • 雑誌名: 電子情報通信学会誌 和文誌 C 巻: Vol.J94-C, no.3
  • 査読あり
• [学会発表] Two-Tone Signal Generation for Communication Application ADC Testing (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Kato, F. Abe, K. Wakabayashi, K. Abe, C. Gao, T. Yamada, H. Kobayashi, O. Kobayashi, K. Niitsu
  • 学会等名: The 21st IEEE Asian Test Symposium
  • 発表場所: Niigata, Japan
  • 年月日: 2012-12-12
• [学会発表] Multi-bit Sigma-Delta TDC Architecture with Self-Calibration (2012)
  • 著者名/発表者名: S. Uemori, M. Ishii, H. Kobayashi, Y. Doi, Os. Kobayashi, T. Matsuura, K. Niitsu, Y. Arakawa, D. Hirabayashi, Y. Yano, T. Gake, N. Takai, T. Yamaguchi
  • 学会等名: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems
  • 発表場所: Kaohsiung, Taiwan
  • 年月日: 2012-12-05
• [学会発表] Digitally-Controlled Gm-C Bandpass Filter (2012)
  • 著者名/発表者名: G. Jin, H. Chen, C. Gao, Y. Zhang, H. Kobayashi, N. Takai, K. Niitsu, K. Hadidi
  • 学会等名: IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems
  • 発表場所: Kaohsiung, Taiwan
  • 年月日: 2012-12-05
• [学会発表] Low-IMD Two-Tone Signal Generation for ADC Testing (2012)
  • 著者名/発表者名: K. Kato, F. Abe, K. Wakabayashi, T. Yamada, H. Kobayashi, O. Kobayashi, K. Niitsu
  • 学会等名: IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop
  • 発表場所: Taipei, Taiwan
  • 年月日: 2012-05-16
• [学会発表] Multi-bit Sigma-Delta TDC Architecture for Digital Signal Timing Measurement (2012)
  • 著者名/発表者名: S. Uemori, M. Ishii, H. Kobayashi, Y. Doi, O. Kobayashi, T. Matsuura, K. Niitsu, F. Abe, D. Hirabayashi
  • 学会等名: IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop
  • 発表場所: Taipei, Taiwan
  • 年月日: 2012-05-15
• [学会発表] Low-Distortion Single-Tone and Two-Tone Sinewave Generation Algorithms Using an Arbitrary Waveform Generator (2011)
  • 著者名/発表者名: K. Wakabayashi, T. Yamada, S. Uemori, O. Kobayashi, K. Kato, H. Kobayashi, K. Niitsu, H. Miyashita, S. Kishigami, K. Rikino, Y. Yano, T. Gake
  • 学会等名: IEEE International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop
  • 発表場所: Santa Barbara, CA
  • 年月日: 2011-05-16
• [図書] 完全ディジタルPLL回路の設計-ディープ・サブミクロンCMOSプロセスで実現するAll-DigitalFrequencySynthesizer
  • 著者名/発表者名: Robert Bogdan Staszewski, Poras T. Balsara(著),山田庸一郎(訳)小林春夫(監訳)
  • 総ページ数: 1-335
  • 出版者: CQ出版(2010年9月出版).
• [産業財産権] Multi-bit Delta-Sigma Time Digitizer and Calibration Method Thereof (2013)
  • 発明者名: 上森聡史, 石井正道, 小林春夫
  • 権利者名: 半導体理工学研究センター
  • 産業財産権番号: 特許US 出願13/767,078
  • 出願年月日: 2013-02-14
  • 外国
• [産業財産権] マルチビットのデルタシグマ型タイ ムデジタイザ回路及びその校正方法 (2012)
  • 発明者名: 上森聡史, 石井正道, 小林春夫
  • 権利者名: 半導体理工学研究センター
  • 産業財産権番号: 特許、特願2012-031484
  • 出願年月日: 2012-02-16