研究課題
若手研究(B)
私たちの生活はコンピュータに依存しており、その高信頼化が不可欠である。そのため、その構成要素である大規模集積回路（ＶＬＳＩ）のテストが必要であり、ＶＬＳＩの使用環境を考慮したテスト品質の向上が求められている。本研究では、通常動作状況を考慮した高品質テストを行うための要素技術として、通常動作を用いたテスト印加・応答観測技術、組込み自己テスト（ＢＩＳＴ）におけるテスト時温度均一化技術、ＢＩＳＴにおける高精度テスト向けのＬＦＳＲシード生成技術、所望の性質を有するテスト・診断パターンを生成するための制約付きテスト生成フレームワーク、動作状況・環境を考慮した非同期式回路の性能最適化技術などを開発した。
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