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高品質LSIテスト分野における効果的テスト手法の開発を目的として，高速機能テスト手法の提案とそれを実現するプロセッサアーキテクチャを開発した．提案プロセッサは，パターンの自由度が高い，拡張性に優れる，高速パターン生成が可能という特長を持ち実用性に優れる．提案プロセッサをハードウェア（FPGA）で構成し，実評価を行った結果，LSIテスターと同等の高速機能テストを行うことが確認された．機能テストはデバイスの受け入れテストに多く使われているため，この成果を発展させて低コストのテストシステムを開発することは非常に有意義である．ここでの成果を国内学会（3件），国際会議（2件）にて発表を行った．
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