研究課題
基盤研究(C)
背面透過型スピン偏極電子源から生成した電子ビームの時間特性を測定するため、高周波偏向空洞をもちいた測定装置を開発した。また、実際に開発した測定装置を用いてスピン偏極電子ビームの時間特性を測定した。その結果、40ps程度のパルス長をもつレーザーにより生成した電子ビームのパルス長は46ps程度であることが確かめられた。この値は用いた電子源試料の設計から矛盾のない値で有った。これにより、従来の反射型のみではなく背面透過型の電子源においてもピコ秒スピン偏極電子ビームの生成が可能であることが確かめられた。
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Applied Physics Express
巻: 6巻 ページ: 0125801
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Japanese Journal of Applied Physics
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Journal of Physics: Conference Series
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http://profs.provost.nagoya-u.ac.jp/view/html/100002212_ja.html