| 研究概要 |
重い電子系セリウム化合物におけるセリウム4f電子の遍歴→局在転移を具体的に理解することを目的として、大型放射光施設SPring-8を利用した軟X線分光実験によりセリウム化合物の磁性発現境界近傍での電子状態変化を調べる研究を展開した。CeRu2(Si,Ge)2系に対する軟X線吸収磁気円二色性測定実験では、この系が常磁性状態から磁気秩序状態に移行する際のセリウム4f電子状態の変化傾向を明らかにした。また、(Ce,Gd)Ni系に対する軟X線吸収磁気円二色性測定実験では、元素ごとの磁性状態を分離して観測し、特にCe 4f電子の磁性に特異な磁場依存性と温度依存性があることを発見した。
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