トランジスタのしきい値電圧のばらつきによってSRAMが動作不良となる問題に対して、SRAMを救済し歩留まりを向上させる手法を確立した。この手法は、まずしきい値電圧の仕上がり値を検知し、次にこれに応じて最適な電圧をSRAMに与えるという2段階からなり、これによって従来は動作不良となっていたSRAMを動作可能とすることができる。本手法を実現するために、しきい値電圧の新たな検知方法を提案するとともに、しきい値とSRAMに与える最適電圧との関係を明らかにした。最終的にSRAM全体回路を設計し、シミュレーションを行うことによって、提案する手法が有効であることを確認した。
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