研究課題
挑戦的萌芽研究
超高速電気特性測定技術を用いて、スピンデバイスデバイス中におけるスピン反転過程の中間状態の観測と解析を行った。その結果、スピントロニクスデバイス中においては、スピンはその反転過程において多様な中間的状態を示すことを明らかとした。スピントロニクスデバイス中のスピン状態が単純に2値として一意的に定まるものではないことを意味し、スピン反転における中間状態を利用した新規スピン制御技術へつながる成果である。
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