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粒子の帯電状態を測定するために市販の装置では、ゼ－タ電位の粒子径依存性を測定することはできなかった。本研究では沈降天秤法を改良して、ゼ－タ電位の粒子径依存性を詳細に知る方法を開発した。この装置を使用して、サブミクロンのシリカ粒子の測定結果より、ゼ－タ電位は粒子径の変化により変わることが明確になった。またゼ－タ電位の絶対値は粒子分散直後において最大となり、時間の経過とともに小さくなり最終的には一定値となった。
またこの特性を利用すると、サブミクロンのシリカ粒子を高精度で分級することが可能であることがわかった。さらに電場を印加できる湿式分級装置も試作して良好な粒子分級が可能であるとの知見を得た。
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