研究課題
挑戦的萌芽研究
ガンマ線カメラへの応用を視野にシリコンマイクロストリップ検出器を用いたMeV領域電子の飛跡角度測定を試みた。シミュレーションにより、5MeVの電子に対して、25μmストリップピッチの検出器のヒット多重度から角度情報を取り出せることを示した。実際には、50μmストリップピッチの検出器に90Sr線源からのベータ線を照射して、信号をフラッシュADCで読み出した。ヒットの多重度の異なる事象の観測に成功した。今後、角度精度の評価には、90Srよりも高いエネルギーの線源を用いる必要がある。