2013 年度研究成果報告書

低線量率照射による二本鎖切断残存および誤修復を利用した放射線感受性予測法の開発

研究課題

研究課題/領域番号	24791338
研究種目	若手研究(B)
配分区分	基金
研究分野	放射線科学
研究機関	慶應義塾大学
研究代表者	田中智樹慶應義塾大学, 医学部, 助教 (80594598)
研究期間 (年度)	2012-04-01 – 2014-03-31
キーワード	低線量被曝 / 放射線感受性 / 染色体解析
研究概要	放射線感受性の異なる正常線維芽細胞、Ataxia Telangiectasia細胞を用いて低線量率照射後の感受性を染色体異常から解析した。細胞はG0期の状態で0.5 Gy/dayの線量率で1-3 Gy照射した。1 Gy当たりの線量で正常細胞では0.36個、AT細胞では3.3個の染色体断片が見られた。3 Gy照射後にG0期染色体とG2期染色体解析を行ったところ、G2期では染色体の誤修復である転座数はG2期で増加がみられたが、8割の誤修復はG0期で見られておりAT細胞ではG0期で多くの誤修復が見られたことからAT細胞では染色体断片の認識に遅れがあり高線量率と同様な感受性を呈することが示唆された。