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ナノ多孔性ガラス中のH+/OH-イオンと酸化物半導体の酸化・還元反応を利用したAFMリソグラフィーによる極細一次元電子ガス（1DEG）の電界誘起と超巨大熱電能の観測を目指した。形状的特徴から、SrTiO3-1DEGのAFMリソグラフィーに成功したが、誘起された1DEGの安定性が極めて低く、熱電能計測には至らなかった。安定に酸化・還元反応が起こる物質の探索を行った結果、絶縁体VO2⇔金属HxVO2、絶縁体SrCoO2.5⇔金属SrCoO3、絶縁体WO3⇔金属HWO3の可逆変化に成功し、論文・新聞・TV上で公表した。上記物質を用いてAFMリソグラフィーを行うことで1DEGが作製できると考えている。
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